检索结果相关分组
- 低噪声放大器有意电磁干扰效应
- 作者： 汪海洋 周翼鸿 李家胤 许立刚 于秀云 来源：强激光与粒子束 年份：2016 文献类型 ：期刊 关键词： 有意电磁干扰 高功率微波 低噪声放大器 直接注入实验
- 描述：低噪声放大器(LNA)是高功率微波"前门"效应典型薄弱器件之一。通过SPICE效应电路建模、模拟计算和注入实验,研究了LNA在不同微波脉宽、功率参数下其增益压制效应规律。模拟结果与实验数据获得良好一致,表明基于SPICE电路模型微波效应研究方法的有效性。研究表明,LNA增益压制脉宽随注入微波脉冲脉宽
- 全文：一致,表明基于SPICE电路模型微波效应研究方法的有效性。研究表明,LNA增益压制脉宽随注入微波脉冲脉宽的增大具有饱和效应,该饱和值基本等于LNA直流偏置电路RC时间常数,并且出现饱和现象对应注入微波脉宽拐点约为150～250ns。最后,给出了LNA微波脉冲效应定性物理解释和机理探讨。
- PIN限幅器PSpice模拟与实验研究
- 作者： 汪海洋 李家胤 周翼鸿 李浩 于秀云 来源：强激光与粒子束 年份：2016 文献类型 ：期刊 关键词： 尖峰泄漏 实验 PIN限幅器 PSpice模拟
- 描述：从PIN二极管基区双极载流子扩散方程出发,通过拉普拉斯变换求解得到PIN二极管子电路模型,从而通过PSpice软件瞬态数值模拟得到了PIN限幅器的尖峰泄漏、平顶泄漏与脉冲功率、上升时间关系。对于I层厚度一定的限幅器,模拟与实验表明脉冲前沿越大,尖峰泄漏功率插入损耗越大,脉冲前沿过缓则可能没有尖峰泄漏
- 全文：厚度一定的限幅器,模拟与实验表明脉冲前沿越大,尖峰泄漏功率插入损耗越大,脉冲前沿过缓则可能没有尖峰泄漏现象;尖峰泄漏功率随着输入功率的增加而变大,但尖峰泄漏功率插损也随之增大;尖峰脉冲宽度与I层厚度、输入功率及脉冲前沿均有关系。限幅器尖峰泄漏与平顶泄漏模拟结果与实验数据基本一致。